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国产进口 : 进口 产地品牌 : 美国 / Beckman 型 号 : LS 13 320 XR |
总访问 : 2577 产品类别 : 粒度仪 最后更新 : 2026-02-04 17:01:40 |
LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪
贝克曼库尔特公司新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析仪提升到了一个更高水平，升级版PIDS技术、优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更好。您不仅可以测量历经范围更宽的颗粒，而且可以更快、更可靠地检测到颗粒粒径间极细微的差异。并且新软件的操作界面更加直观，仅需点击几次便可获得您需要的数据。
LS 13 320 XR激光衍射粒度分析仪是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性以及操作非常简单的干湿两用粒度分析仪，采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。LS 13 320 XR配备有多种新型的样品进样模块，“即插即用”，满足不同的分析要求，灵活便利；PIDS技术（4953978，5104221），真正实现10nm粒径二两；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作。
一、LS 13 320 XR激光衍射粒度分析仪 特点
| 发现细微差异 | 易于使用的软件 | ADAPT 软件符合《美国联邦法规》第 21 章第 11 部分的规定 | PIDS 技术可直接检测大小为 10 nm 的颗粒 |
| · 扩展测量范围：10 nm – 3,500 µm · 激光衍射加上先进的偏振光强度差散射 (PIDS) 技术可实现高分辨率的测量并可报告最小为 10 nm 颗粒的真实数据 · 可在单个样品中提供针对多种粒度的准确、可靠的检测 |
· ADAPT 软件可自动进行合格/不合格检查 · 只需 3 步或更少，预配置方法即可呈现结果 · 简化专家及新手的分析仪操作流程 · 一步覆盖历史数据 · 直观的用户诊断可在取样过程中时刻对您进行提醒 · 简化标准测量的方法创建流程 |
· 可自定义的安全系统满足多元化需求 · 可选择 4 种不同的安全级别 · 高级别的安全配置符合《美国联邦法规》第 21 章第 11 部分的规定 |
· 用3 种波长的光（450、600 及 900 nm）通过垂直和水平偏振光照射样品 · 分析仪从多角度测量来自样品的散射光 · 每种波长的水平及垂直辐射光之间的差异提供了高分辨率的粒度分布数据 |
| 技术 | 前向小角度散射光技术结合PIDS（偏振光强度差散射）技术，应用三种不同波长的光在垂直和水平偏振方向上，分析六个不同角度的散射光。同时符合夫琅和费（Fraun-hofer）理论和米氏（Mie）理论。 |
| 光源 | 主光源：785nm 其它光源（PIDS）：475、613、900nm |
| 粒度测量范围 | 全量程范围：10nm – 3,500μm（峰值） |
| 检测器数目 | 132枚硅光电检测器 |
| 分析通道 | 136个 |
| 准确性误差 | ＜±0.5% |
| 重复性误差 | ＜±0.5% |
| 接口 | USB |
| 功耗 | 90 – 125 VAC（≤6 amp） 220 – 240 VAC（≤3 amp） |
| 温度范围 | 10 – 40℃（50 – 104℉） |
| 相对湿度 | 0 – 90%（无凝结） |
| 合规性 | 符合21 CFR第11部分标准要求 RoHS 认证： -EU EMC指令2014/30/EU -CISPR 11:2009/A1:2010 -澳大利亚和新西兰法规符合性标志 |
| 数据导出文件格式 | XLSX、TSV、PDF |
| 文件导入功能 | LS 13 320和 LS 13 320 XR的测量文件均可导入 |
| 软件操作系统 | Windows 10,64位 |
| 主机体积 | 高：49.53cm 长：93.98cm 深：25.4cm |
| 主机重量 | 23.5公斤 |
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